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品牌Bruker Alicona	有效期至長期有效	最后更新2022-10-10 16:26
量測范圍310 x 310 x 310 mm	工作溫度+20°C to+25°C	量測面積[mm]2.63 x 2.63
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Bruker Alicona μCMM納米級光學三坐標檢測儀

Alicona μCMM

納米級光學三坐標檢測儀

Alicona μCMM 納米級光學三坐標量測設備
Alicona μCMM是第一臺純光學CMM機床，用于高精度3D測量極小的公差。用戶結合了觸覺坐標測量技術和光學表面測量技術的優勢，僅使用一個傳感器即可測量組件的尺寸，位置，形狀和粗糙度。Alicona光學CMM可以提供相對于彼此的多個光學3D測量結果的高幾何精度，從而可以對大型組件上的小表面細節進行測量，并可以精確地確定這些單獨的測量結果相對于彼此的位置。
可測量表面的范圍包括所有常見的工業材料和復合材料，例如塑料，PCD，CFRP，陶瓷，鉻，硅。一鍵式解決方案實現了簡單的操作，自動化和人體工程學控制元素，例如專門設計的控制器。帶有直線驅動器的空氣軸承軸可實現無磨損使用以及高精度，快速的測量。

直觀的可用性，專為多個用戶而設計

可測量表面的光譜在很大程度上與材料無關，包括從啞光到拋光或鏡面反射的組件，該行業通常使用的所有材料和復合材料。

密集的非接觸式且與材料無關的測量

Alicona 3D測量系統提供了表面功能以及將坐標測量系統集成到一個系統中的功能。結果，您的質量保證將變得更具成本效益，更易于執行并更有效地交付結果。

無磨損高效使用

所有組件，包括運動軸，均無接觸運行。空氣軸承線性驅動軸可實現無磨損運行以及高精度，快速測量。這使μCMM成為生產中永久使用的理想選擇。

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